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Anstelle des Lichtstrahls
einen normalen Mikroskops werden Elektronenstrahlen eingesetzt, die mit
Hilfe elektromagnetischer Felder fokussiert werden. Man unterscheidet zwei
prinzipielle Verfahren:
1. TEM - Transmissionselektronenmikroskopie,
bei der die zu betrachtenden Objekte außerordentlich dünn sein
müssen. Um Metalloberflächen etc. abzubilden, werden von den
betreffenden Schliffen Folienabdrücke angefertigt, die dann durchstrahlt
werden können.
2. REM - Rasterelektronenmikroskopie,
bei der vergrößerte Abbildungen von Oberflächen direkt,
d. h. ohne Abfertigung von Abdrücken angefertigt werden können. |